• 24 октября, среда
  • Курск, Ул. Карла Маркса д.135

Конференция «Стратегия качества в условиях многономенклатурного производства электроники»

Через 31 день
с 10:00 24 октября по 16:30 25 октября
Курск
Ул. Карла Маркса д.135

В связи с сокращением объема гособоронзаказа российские предприятия ОПК вынуждены думать о том, как перестроить производственный процесс на выпуск товаров народного потребления, а также наладить получение заказов на их изготовление и организовать их сбыт.

Учитывая высочайший уровень конкуренции на этом рынке (помимо уже устоявшихся контрактных производителей), востребованы будут те, кто  обеспечит:
  • полный цикл производства
  • короткие сроки изготовления
  • низкую себестоимость
  • лучшее качество 
 
Все эти критерии зависят от выбранной стратегии качества. Оптимальный вариант – обнаружение дефекта еще на этапе производства, пока он еще не успел уйти в «серию». Поэтому при разработке/производстве электронных модулей выполняется множество различных проверок и испытаний. Их основная задача – обнаружение и локализация дефекта с последующим его устранением. Однако случается так, что некоторые дефекты тестовые системы могут пропустить (в зависимости от выбранной стратегии), при этом в целом изделие будет работать. И если на начальном этапе эксплуатации такого электронного модуля это может и не повлиять на его работоспособность, то в дальнейшем пропущенные дефекты станут причиной нестабильной работы или даже приведут к полному отказу всего изделия и к сокращению срока его службы.
 
Как же обнаружить неисправности и в целом снизить количество бракованной продукции, следовательно, повысить её качество? Об этом и пойдет речь на конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства», которая состоится 24 — 25 октября 2018 года на территории нового завода «Совтест АТЕ» в Курске.
 
Разработка современных тестовых систем для контроля качества электронных изделий является одним из приоритетных направлений деятельности ООО «Совтест АТЕ». Накопленные за 27 лет работы компании знания и опыт позволили организовать собственное производство с сертифицированной Системой менеджмента качества (ISO 9001:2015).
 
Ключевые темы конференции: 
  • Внутрисхемное тестирование – гарантия работоспособности электронных модулей
  • Место автоматизированных тестовых систем в современном производстве электроники
  • Внутрисхемное тестирование применительно к контрактному производству (FoxConn, Flextronics, Jabil и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»
  • Внутрисхемное тестирование применительно к контролю изделий спецтехники (Thales, Raytheon, Alcatel и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»
  • Презентация-демонстрация новейшей тестовой системы с подвижными пробниками Pilot NEXT
  • Pilot NEXT – специальные возможности для функционального контроля
  • JTAG-тестирование как бюджетное решение для тестирования (и не только) электронных модулей
  • 3D АОИ: сильные и слабые стороны. Стоит ли следовать модным трендам
  • Решения «Совтест АТЕ» в области входного контроля и испытаний ЭКБ
  • Функциональное тестирование – универсальный подход для испытаний широкой номенклатуры изделий электроники
  • Ремонтный участок «Совтест АТЕ» — современная философия поиска неисправностей
 
В рамках конференции состоится демонстрация оборудования, применяемого для обеспечения контроля качества выпускаемой продукции:
  • Система электроконтроля с подвижными пробниками  Pilot V8 NEXT Series (Seica, Италия);
  • Система JTAG-тестирования SCANFLEX II Cube (Goepel, Германия);
  • Тестовая система с подвижными пробниками для контроля ПП/МПП  E4L6151 (Microcraft, Япония);
  • Рабочее место ремонтника /регулировщика РЭА 
  • Промышленный рентгеновский томограф XT H320 (Nikon, Великобритания)
  • Рентгеноскопическая система для участка SMT монтажа – XT V160 (Nikon, Великобритания)
  • Оборудование для входного контроля и функционального тестирования.

 

Программа мероприятия

Время

Мин

Тема доклада

Спикер

 

 

24 октября 2018 (среда)

09.00-09.30

30

Регистрация участников

 

 

 

Открытие конференции

 

09.30-09.45

15

Торжественное открытие. Приветственная презентация: о предприятии СОВТЕСТ и о заводе «Датчики и Системы»

И.В. Марков

 

 

I часть

 

09.45-10.05

20

История компании Seica, краткий обзор достижений и выпускаемого оборудования. Заказчики с мировым именем.

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

10.05-10.55

50

Место автоматизированных тестовых систем в современном производстве электроники.  Внутрисхемное тестирование — гарантия работоспособности электронных модулей

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

10.55-11.10

15

Кофе-брейк

 

 

 

II часть

 

11.10-11.50

40

Внутрисхемное тестирование применительно к контрактному производству (FoxConn, Flextronics, Jabil и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»

 

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

11.50-12.30

40

Внутрисхемное тестирование применительно к контролю изделий спецтехники (Thales, Raytheon, Alcatel и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

12.30-13.30

60

Обед

 

13.30-15.20

110

Pilot NEXT – специальные возможности для функционального контроля. Демонстрация 

системы электроконтроля с подвижными пробниками  Pilot V8 NEXT Series (Seica, Италия)

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

15.20-15.30

10

Кофе-брейк

 

15.30-16.20

50

JTAG-тестирование как бюджетное решение для тестирования (и не только) электронных модулей.

Демонстрация системы JTAG-тестирования SCANFLEX II Cube (Goepel, Германия)

Steffen Kamprad (Goepel)

16.20-17.00

40

Лазерная селективная пайка FireFly. Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

17.00

 

Фуршет

 

 

 

 

25 октября 2018 (четверг)

 

09.00-10.00

60

Опыт тестирования ПП/МПП и собранных электронных модулей на заводе Совтест АТЕ «Датчики и Системы»

Кусков В.С.

10.00-10.45

45

3D АОИ: сильные и слабые стороны. Стоит ли следовать модным трендам.  Применение автоматической оптической системы в условиях многономенклатурного производства

Ивахин А.В

10.45-11.25

40

Демонстрация ремонтного места (проекция на ТВ панель всех шагов). Ремонтный участок «Совтест АТЕ» — современная философия поиска неисправностей.

Кусков В.С./Слепухов Е.

11.25-11.40

15

Кофе-брейк

 

11.40-12.10

30

Решения «Совтест АТЕ» в области входного контроля и испытаний ЭКБ.

Суворов/Малышев

12.10-12.50

40

Функциональное тестирование – универсальный подход для испытаний широкой номенклатуры изделий электроники.

Суворов/Малышев.

12.50-13.50

60

Обед

Елькова Н.С.

13.50-14.20

30

Система прослеживаемости  АТЛАС

Абакумов С.

14.20-14.50

30

Возможности автоматов JUKI для предотвращения дефектов сборки плат

Шведюк Е.

14.50-15.50

60

Демонстрация производства Совтест

Меньшиков С.С./Рыков И.И./ Кусков В.С./Слепухов Е.А.

15.50-16.00

10

Заключительное слово

И.В. Марков

 

Регистрация

Рекомендуемые события

Организуете события? Обратите внимание на TimePad!

Профессиональная билетная система, статистика продаж 24/7, выгрузка списков участников, встроенные инструменты продвижения, личный кабинет для самостоятельного управления и еще много чего интересного.

Узнать больше