• 30 марта, пятница
  • Москва, 105005, Москва, 2-я Бауманская ул., д.5

Конференция «Отечественные решения в области входного контроля и испытаний ЭКБ»

Через 34 дня
30 марта c 9:00 до 16:00
Москва
105005, Москва, 2-я Бауманская ул., д.5

Основу аппаратной части объектов практически в любой отрасли промышленности составляет электронная компонентная база (ЭКБ). А в сферах ответственного применения, таких как аэрокосмическая отрасль и военно-промышленный комплекс, с повышением уровня сложности производимых изделий растет и уровень ответственности каждого компонента радиоэлектронной аппаратуры (РЭА). Следовательно, при сборке допустимой является только 100% исправность комплектующих. Ведь повреждение или некачественное исполнение одного компонента может повлечь за собой выход из строя другого компонента, узла, а возможно, и всего комплекса в целом, что приводит порой к катастрофическим последствиям и многомиллионным потерям. В связи с этим, тема входного контроля и испытаний компонентной базы на сегодняшний день является, пожалуй, одной из наиболее актуальных в электронной индустрии.

За 27 лет работы предприятие «Совтест АТЕ», основным направлением деятельности которого были и остаются тестовые системы и технологии в этой области, накопило существенный опыт в этой сфере, наладило собственное производство тестового и контрольно-измерительного оборудования, а также установило партнерские связи с ведущими мировыми производителями. Наше предприятие активно сотрудничает с зарубежными и российскими испытательными центрами, а также российскими производителями ЭКБ.

Предстоящая конференция – это возможность обсудить вопросы, связанные с повышением уровня надежности современной электронной компонентной базы, а также рассмотреть существующие отечественные решения в области входного контроля и испытаний ЭКБ.

 

Ключевые темы конференции:

 

  • Обзор предлагаемых ООО «Совтест АТЕ» решений в области входного контроля и испытаний ЭКБ;
  • Обзор программного обеспечения «XpertTest», предназначенного для разработки тестовых программ контроля параметров микросхем; 
  • Автоматизация решений входного контроля ЭКБ. Интеграция тестовых систем роботизированными сортировщиками;
  • Особенности проектирования и разработки тестовых решений для контроля параметров ЭКБ;
  • Использование мобильных систем термостатирования при решении задач входного контроля;
  • Принципы построения комплексов электротермотренировки (ЭТТ), обзор решений.

В рамках конференции состоится демонстрация оборудования, применяемого для входного/выходного контроля радиоэлектронных компонентов:

 

  • Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT‑17DT-256;
  • Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT‑17MINI;
  • Система машинного  зрения FT-Vision – выявление дефектных и контрафактных компонентов на этапе входного контроля (контроль маркировки, измерение геометрических размеров ЭКБ, определение сколов и царапин корпуса компонентов и т.п.);
  • Локализатор неисправностей SFL1500 – бюджетное решение  для входного контроля компонентов, основанное  на методе аналого-сигнатурного анализа;
  • Стереомикроскоп SMZ1270 и цифровой микроскоп Inspectis F30s для визуального контроля качества и бесконтактных измерений ЭКБ.

 

Эксперты конференции:

  • Федор Крекотень – генеральный директор – главный конструктор ООО «Совтест Микро»
  • Роман Малышев – главный конструктор ООО «Совтест АТЕ»
  • Артем Данилин – разработчик программного обеспечения «XpertTest»
  • Андрей Ивахин – ведущий инженер и эксперт Центра технологий неразрушающего контроля

Начало работы конференции – 10:00.

Регистрация участников – с 09:00 до 10:00.

Регистрация

Рекомендуемые события

Организуете события? Обратите внимание на TimePad!

Профессиональная билетная система, статистика продаж 24/7, выгрузка списков участников, встроенные инструменты продвижения, личный кабинет для самостоятельного управления и еще много чего интересного.

Узнать больше